State aligned graph wavelet fingerprints of electron trapping in amorphous SiN
تقدم هذه الورقة بصمات موجية رسومية متوافقة مع الحالة (state-aligned graph-wavelet fingerprints) لفك وتحليل آليات احتجاز الإلكترونات في السيليكون نيتريد غير المتبلور (amorphous SiN) كمياً، وذلك عبر الربط المتزامن بين الهوية الإلكترونية، وإعادة التنظيم الهيكلي متعدد المقاييس، والاستقرار الطاقي عبر سيناريوهات الاحتجاز المتنوعة.