Nanometer-scale operando electric field mapping in oxide junctions by correlative STEM-EBIC and 4D-STEM
تقدم هذه الدراسة نهجاً ترابطياً يجمع بين تصوير تباين التيار الإلكتروني في المجهر الإلكتروني الماسح (STEM-EBIC) والمجهر الإلكتروني الماسح رباعي الأبعاد (4D-STEM) لرسم خرائط كمية للمجالات الكهربائية على مقياس النانومتر في وصلات شوتكي للأكاسيد أثناء تشغيلها، مما يكشف عن إلكتروستاتيكا بينية غير كلاسيكية تنحرف عن نماذج الاستنزاف المثالية.