Structural control of two-level defect density revealed by high-throughput correlative measurements of Josephson junctions
تُرسخ هذه الدراسة منهجية قائمة على البيانات وعالية الإنتاجية تربط بين معاملات التصنيع والسمات المجهرية عبر الآلاف من وصلات جوزيفسون لتحديد الأصول الهيكلية المحددة لعيوب الأنظمة ثنائية المستوى، محققةً في نهاية المطاف خفضاً بمقدار الثلثين في كثافة العيوب من خلال تحسين تصنيع الأقطاب الكهربائية.