Sivers Tomography from Charge and Angle Only
تقترح هذه الورقة مسبار "ارتباط الشحنة بنقطة واحدة" نظيفاً من الناحية النظرية وبسيطاً من الناحية التجريبية لقياس تأثير سيفيرز في التشتت العميق غير المرن لجسيمات متقابلة باستخدام إشارات واتجاهات المسارات المشحونة فقط، والذي يحقق التفكك دون الاعتماد على دالات التجزئة غير الاضطرابية ويوفر تنبؤات عالية الدقة مع إعادة التجميع لتجارب مستقبليّة في مجمع الإلكترونات والأيونات (EIC).