Soft X-ray Reflection Ptychography
تُثبت هذه الورقة جدوى ومتانة تقنية التصوير بالتيثوغرافيا بالأشعة السينية اللينة ذات الهندسة الانعكاسية كتقنية تصوير غير مدمرة قادرة على تحقيق دقة مكانية تبلغ حوالي 45 نانومتر على العينات الضخمة أو الممتدة، مما يتغلب بذلك على قيود سمك العينة المتأصلة في الطرق التقليدية القائمة على النفاذ.