Accessibility of doping ranges of semiconductors by terahertz spectroscopy
تقدم هذه الورقة مقياس حساسية قائمًا على المحاكاة لتحديد نطاقات التطعيم المتاحة لمطيافية التراهرتز خالية التلامس في مختلف المواد وأبنية الطبقات أشباه الموصلات، مما يؤكد أن هذه التقنية تُوصّف بفعالية كثافات حوامل الشحنة من حوالي إلى سم مع توفير إطار عمل لتقييم التحسينات المستقبلية للنظام.