Monte-Carlo Event Generation for X-Ray Thomson Scattering Analysis
تقدم هذه الورقة إطار عمل جديداً لتوليد الأحداث بطريقة مونت كارلو، وهو مستقل عن النموذج، لتحليل تشتت الأشعة السينية، حيث يقوم بأخذ عينات من أحداث التشتت الفردية من المقاطع العرضية التفاضلية لتجاوز النمذجة الأمامية المكلفة حاسوبياً، مما يتيح تشخيصات متسقة إحصائياً، وواعية بالهندسة، وقابلة للتوسع لتجارب المادة الدافئة الكثيفة.