Flux Trapping Characterization for Superconducting Electronics Using a Cryogenic Widefield NV-Diamond Microscope
تقدم هذه الورقة مجهراً يعتمد على مراكز النيتروجين المفرغة (NV) في الألماس يعمل في درجات حرارة شديدة البرودة، مما يتيح التصوير السريع للتدفق المغناطيسي المحتبس في الأجهزة فائقة التوصيل بمقياس ميكرومتري، ويكشف عن سلوكيات طرد الدوامات الحرجة في أغشية النيوبيوم الرقيقة، ويقدم أداة عالية الإنتاجية لتحسين موثوقية الإلكترونيات فائقة التوصيل القابلة للتوسع.