Electric Field Resolved Image Formation in a Widefield Optical Microscope
Die Autoren stellen eine neue all-optische Bildgebungsmethode vor, die es erstmals ermöglicht, das elektrische Feld von Licht in der Probenebene eines konventionellen Weitfeld-Mikroskops mit einer zeitlichen Auflösung von 100 Attosekunden und einer räumlichen Auflösung von 200 Nanometern direkt zu visualisieren.