Influence of Radiation and AC Coupling on Time Performance of Analog Pixels Test Structures in 65 nm CMOS technology
본 논문은 ALICE ITS3 연구개발 프로그램의 일환으로 TPSCo 65 nm CMOS 공정을 기반으로 제작된 아날로그 픽셀 테스트 구조물 (APTS) 을 평가한 결과, DC 및 AC 결합 방식 모두 10^15 NIEL 수준의 고선량 방사선 조사 환경에서 70 ps 미만의 시간 분해능과 99% 이상의 검출 효율을 유지하여 차세대 고에너지 물리 검출기에 적합한 방사선 내성 및 정밀 타이밍 성능을 입증했다고 요약할 수 있습니다.
Gianluca Aglieri Rinella, Luca Aglietta, Matias Antonelli, Francesco Barile, Franco Benotto, Stefania Maria Beole, Elena Botta, Giuseppe Eugenio Bruno, Domenico Colella, Angelo Colelli, Giacomo Contin, Giuseppe De Robertis, Floarea Dumitrache, Domenico Elia, Chiara Ferrero, Martin Fransen, Alessandro Grelli, Hartmut Hillemanns, Isis Hobus, Alex Kluge, Shyam Kumar, Corentin Lemoine, Francesco Licciulli, Bong-Hwi Lim, Flavio Loddo, Esther Mwetaminwa M Bilo, Magnus Mager, Davide Marras, Paolo Martinengo, Cosimo Pastore, Rajendra Nath Patra, Stefania Perciballi, Francesco Piro, Francesco Prino, Luciano Ramello, Felix Reidt, Roberto Russo, Valerio Sarritzu, Umberto Savino, Serhiy Senyukov, Mario Sitta, Walter Snoeys, Jory Sonneveld, Miljenko Suljic, Triloki Triloki, Gianluca Usai, Haakan WennlofTue, 10 Ma🔬 physics.app-ph