SPARC: Automated Root-Cause Analysis of Pre-Silicon Power Side-Channel Leakage in the Processor Design Flow
تقدم هذه الورقة SPARC، وهو إطار عمل مؤتمت لمرحلة ما قبل السيليكون يستفيد من تتبع تدفق المعلومات على مستوى الخلايا الكلية (macro-cell) للكشف بكفاءة عن تسرب القنوات الجانبية للطاقة وتقييمه وتحديد الأسباب الجذرية المحددة للأجهزة والبرمجيات في تصميمات المعالجات، محققاً تسريعاً كبيراً في عمليات المحاكاة مقارنة بالطرق الحالية.