Beam Cross Sections Create Mixtures: Improving Feature Localization in Secondary Electron Imaging
تُثبت هذه الورقة أن نمذجة أعداد الإلكترونات الثانوية كتوزيع خليط، بدلاً من كونها عملية التفاف بسيطة، تتيح مُقدِّرًا للاحتمال الأقصى يحقق دقة تحديد حواف تحت بكسلية كبيرة — مما يقلل جذر متوسط مربع الخطأ بنحو خمسة أضعاف مقارنة بالطرق التقليدية في كل من عمليات المحاكاة ومجموعات بيانات مجهر أيونات الهيليوم الحقيقية.