High-Resolution Atomic Magnetometer-Based Imaging of Integrated Circuits and Batteries
Diese Arbeit stellt ein hochauflösendes, optisch gepumptes Magnetometersystem vor, das durch eine innovative FID-Konfiguration mit zweiachsiger Spiegelscannung und einem minimalen Abstand von 2,7 mm eine sub-Pikotesla-Empfindlichkeit erreicht und damit die präzise, nichtinvasive Bildgebung von integrierten Schaltkreisen sowie Batterien ermöglicht.