Dynamical diffraction formalism for imaging time-dependent diffuse scattering from coherent phonons with Dark-Field X-ray Microscopy
यह शोध पत्र तागाकी-टौपिन समीकरणों पर आधारित एक गतिशील विवर्तन औपचारिकता प्रस्तुत करता है जो डार्क-फील्ड एक्स-रे माइक्रोस्कोपी को पारंपरिक ब्रैग-पीक ट्रैकिंग की आवृत्ति समाधान सीमाओं को पार करने में सक्षम बनाता है, जिससे समय-निर्भर तीव्रता दोलन साइडबैंड के माध्यम से बल्क सामग्रियों में सुसंगत फोन क्षय और अंतःक्रियाओं के मात्रात्मक, गहराई-अनुरक्षित इमेजिंग की अनुमति मिलती है।