Structural control of two-level defect density revealed by high-throughput correlative measurements of Josephson junctions
यह अध्ययन एक उच्च-थ्रूपुट, डेटा-संचालित कार्यप्रणाली स्थापित करता है जो दो-स्तरीय प्रणाली (टू-लेवल सिस्टम) दोषों के विशिष्ट संरचनात्मक मूलों की पहचान करने के लिए हजारों जोसेफसन जंक्शनों में फैब्रिकेशन मापदंडों और सूक्ष्म संरचनात्मक विशेषताओं के बीच सहसंबंध स्थापित करता है, जिससे अंततः अनुकूलित इलेक्ट्रोड फैब्रिकेशन के माध्यम से दोष घनत्व में दो-तिहाई की कमी प्राप्त होती है।