Fabrication-free assessment of microwave losses in germanium-based dielectrics and superconductors
यह शोध पत्र जर्मेनियम-आधारित डाइइलेक्ट्रिक्स और सुपरकंडक्टर्स में माइक्रोवेव नुकसान का तेजी से मूल्यांकन करने के लिए एक फैब्रिकेशन-मुक्त फ्लिप-चिप सेंसिंग तकनीक प्रस्तुत करता है, जो यह प्रकट करता है कि स्ट्रेन-इंजीनियर्ड Ge/SiGe हेटरोस्ट्रक्चर क्वांटम सर्किटों के लिए आशाजनक हैं, जबकि बिना संशोधित PtSiGe फिल्मों में उच्च नुकसान होता है जिसे नियोबियम की कोटिंग द्वारा महत्वपूर्ण रूप से कम किया जा सकता है।