A hole spin resilient to dipole-induced thermal effects
यह अध्ययन प्रयोगात्मक रूप से प्रदर्शित करता है कि सिलिकॉन में एक एकल होल स्पिन की तापीय संवेदनशीलता (thermal susceptibility), जो हानिकारक लार्मर फ्रीक्वेंसी शिफ्ट का कारण बनती है, स्पिन-ऑर्बिट-प्रेरित इलेक्ट्रिक डायपोल से उत्पन्न होती है और चुंबकीय क्षेत्र के कोण को ट्यून करके एक तापीय रूप से सुदृढ़ "स्वीट स्पॉट" बनाकर इसे पूरी तरह से समाप्त किया जा सकता है।