Substrate-metal interface engineering enhances TaN/Ta thin film superconducting resonator performance
यह अध्ययन प्रदर्शित करता है कि सिलिकॉन सबस्ट्रेट और टेंटलम नाइट्राइड सीड लेयर के बीच एक पतली टेंटलम बफर लेयर डालने से नाइट्रोजन संचय और इंटरफेस पर संरचनात्मक विकार को दबाकर सुपरकंडक्टिंग रेज़ोनेटर के आंतरिक गुणवत्ता कारक (इंटरनल क्वालिटी फैक्टर) में महत्वपूर्ण वृद्धि होती है, जिससे टू-लेवल सिस्टम लॉस कम हो जाता है।