Damage dose dependence of deuterium retention in high-temperature self-ion irradiated tungsten
यह अध्ययन प्रदर्शित करता है कि उच्च तापमान (1350 K) पर टंगस्टन के सेल्फ-आयन इरेडिएशन से नैनोमीटर आकार के वॉइड्स (voids) बनते हैं जो अद्वितीय ड्यूटेरियम ट्रैपिंग साइट्स के रूप में कार्य करते हैं, जिससे एक विशिष्ट डैमेज डोज़ डिपेंडेंस उत्पन्न होता है जहाँ ड्यूटेरियम रिटेंशन कम तापमान पर देखे गए रिटेंशन से अधिक हो जाता है और बिना संतृप्ति (saturation) के 2.3 dpa पर 1.7 at.% तक पहुँच जाता है, एक ऐसा व्यवहार जिसे आणविक गैस और वॉइड्स के भीतर परमाणु ट्रैपिंग दोनों को शामिल करने वाले रिएक्शन-डिफ्यूजन सिमुलेशन द्वारा समझाया गया है।