Optimization-Based Thickness Estimation and Depth-Resolved FIB-Induced Damage Characterization via Multislice Electron Ptychography
यह शोध पत्र यह प्रदर्शित करता है कि मल्टीस्लाइस इलेक्ट्रॉन प्टाइकोग्राफी (multislice electron ptychography) के भीतर नमूने की मोटाई और अन्य मापदंडों का संयुक्त बेयसियन अनुकूलन (joint Bayesian optimization), एक एकल 4D-STEM डेटासेट से स्थानीय लैमेला मोटाई के सटीक, स्व-सुसंगत अनुमान और FIB-प्रेरित अमोर्फस क्षति के गहराई-अनुरुद्ध लक्षण वर्णन को सक्षम बनाता है।