How effective normal stress oscillations advance failure in fault gouge: frequency dependence, non-failure window, and the role of dilation
यह अध्ययन युग्मित डिस्क्रीट एलिमेंट-फ्लुइड डायनामिक्स मॉडलिंग का उपयोग यह प्रदर्शित करने के लिए करता है कि उप-क्रांतिक प्रभावी सामान्य प्रतिबल दोलन (sub-critical effective normal stress oscillations), विस्फार-प्रेरित शक्ति क्षरण (dilation-induced strength deterioration) के माध्यम से अधिकांश आवृत्तियों में फॉल्ट गौज विफलता को ट्रिगर कर सकते हैं, सिवाय एक विशिष्ट मध्यवर्ती "गैर-विफलता विंडो" (30–200 हर्ट्ज) के जहाँ निम्न-आवृत्ति रैचेटिंग और उच्च-आवृत्ति गतिशील विस्फार के तंत्र ओवरलैप नहीं होते हैं।