Sivers Tomography from Charge and Angle Only
यह शोध पत्र बैक-टू-बैक डीप-इन इलास्टिक स्कैटरिंग में सिवर्स प्रभाव (Sivers effect) को मापने के लिए केवल आवेशित ट्रैक संकेतों और दिशाओं का उपयोग करते हुए एक सैद्धांतिक रूप से स्वच्छ और प्रयोगात्मक रूप से सरल "वन-पॉइंट चार्ज-कोरिलेटर" प्रोब का प्रस्ताव करता है, जो गैर-नॉन-परटर्बेटिव फ्रैगमेंटेशन फंक्शन्स पर निर्भर किए बिना गुणनखंडन (factorization) प्राप्त करता है और भविष्य के इलेक्ट्रॉन-आयन कोलाइडर प्रयोगों के लिए उच्च-परिशुद्धता वाले रिसम्ड अनुमान प्रदान करता है।