Direct Orientation Contrast Imaging of Anti-Phase Domains on III-V Materials Using Scanning Electron Microscopy
यह शोध पत्र स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी का उपयोग करके III-V सामग्रियों में एंटी-फेज डोमेन के प्रत्यक्ष ओरिएंटेशन कंट्रास्ट इमेजिंग की जांच करता है, जिसमें GaAs, गैर-ध्रुवीय (non-polar) सामग्रियों और सिलिकॉन पर विकसित जिंक-ब्लेन्ड संरचनाओं पर इलेक्ट्रॉन बीम ऊर्जा, टिल्ट कोण और सबस्ट्रेट स्थितियों के प्रभावों का विश्लेषण करने के लिए मात्रात्मक और गुणात्मक दोनों दृष्टिकोणों को नियोजित किया गया है।