Ionization rate vs. laser intensity determined from ion count vs. peak intensity due to neutral gas exposure to an 800 nm ultrashort pulsed laser
यह अध्ययन 800 nm अल्ट्राशॉर्ट पल्स के लिए लगभग 300 TW/cm तक के स्थानीय तात्कालिक लेजर तीव्रता के फलन के रूप में Ar, O, और N की ऑप्टिकल चक्र-औसत आयनीकरण दरों को निर्धारित करने के लिए प्रकाशित टाइम-ऑफ-फ्लाइट आयन स्पेक्ट्रोमीटर डेटा को संख्यात्मक रूप से इनवर्ट करता है, जबकि माइक्रोचैनल प्लेट संग्रह दक्षताओं को पुन: अंशांकित करता है और मल्टीफोटॉन क्रॉस-सेक्शन डेटा के विरुद्ध O परिणामों को मान्य करता है।