Unraveling the Defect Physics of SiC Micropipe Sidewalls by Non-Line-of-Sight Confocal Spectromicroscopy: Amphoteric Giant Traps
यह शोध पत्र एक नॉन-लाइन-ऑफ-साइट कॉन्फोकल स्पेक्ट्रोमाइक्रोस्कोपी तकनीक प्रस्तुत करता है जो यह प्रकट करता है कि SiC माइक्रोपाइप की साइडवॉल्स उच्च घनत्व वाले डीप-लेवल स्टेट्स के एम्फोटेरिक जाइंट ट्रैप के रूप में कार्य करती हैं, जो वाहक पुनर्संयोजन (कैरियर रिकॉम्बिनेशन) पर हावी होती हैं और ट्रैप-असिस्टेड ट्रांसपोर्ट के माध्यम से लीकेज करंट को सुगम बनाती हैं।