Sub-Nyquist time-domain surface-enhanced Raman mapping
यह शोध पत्र SERS लॉक-इन सैंपलिंग को प्रस्तुत करता है, जो एक गणनात्मक रूप से सरल तकनीक है जो नैदानिक निदान के लिए हजारों SERS सेंसरों की एक साथ उच्च-थ्रूपुट, वाइडफील्ड 3D रासायनिक इमेजिंग को सक्षम करने हेतु स्पेक्ट्रल स्पर्सिटी (spectral sparsity) और टेम्पोरल जिटर (temporal jitter) का लाभ उठाती है और नाइक्विस्ट-शैनन सीमा (Nyquist-Shannon limit) को पार करती है।