Measurement-limited learning of conformational heterogeneity in cryo-electron microscopy
यह शोधपत्र एक सूचना-सैद्धांतिक ढांचे को प्रस्तुत करता है जो एन्सेम्बल भार (ensemble weights) और छवियों के बीच पारस्परिक सूचना (mutual information) को अधिकतम करके क्रायो-इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी में प्रतिनिधि विन्यासों (conformations) के चयन को अनुकूलित करता है, जिससे एक मापन-प्रेरित स्थूल-कणिकीकरण (measurement-induced coarse-graining) को परिभाषित किया जाता है जो शोर की उपस्थिति में संरचनात्मक रिज़ॉल्यूशन और सांख्यिकीय पहचान क्षमता के बीच संतुलन बनाता है।