iDART: Interferometric Dual-AC Resonance Tracking nano-electromechanical mapping
Il paper introduce l'iDART, una tecnica avanzata di microscopia piezo-risposta che combina l'interferometria differenziale di fase quadrata con l'amplificazione della risonanza di contatto per ottenere un miglioramento del rapporto segnale-rumore superiore a 10 volte rispetto alle metodologie PFM attuali, consentendo così l'imaging quantitativo e affidabile di materiali piezoelettrici deboli e sistemi oltre-CMOS con bias ridotti.