Probing the Dynamics of Two-Level System Defect Ensembles via Broadband Cryogenic Transient Dielectric Spectroscopy
Questo articolo introduce la Broadband Cryogenic Transient Dielectric Spectroscopy (BCTDS), una nuova tecnica a livello di wafer che utilizza la dinamica di fase transitoria sotto forte eccitazione a microonde per caratterizzare il comportamento dipendente dalla frequenza e gli spostamenti indotti dai cicli termici dei difetti a due livelli (TLS) nei dielettrici, offrendo così uno strumento potente per comprendere le sorgenti di decoerenza nei circuiti quantistici superconduttori.