Event-sparse stack denoising for 4D-STEM applications
Questo articolo introduce il denoising di stack event-sparse per la 4D-STEM, un metodo che sfrutta i dati degli eventi elettronici risolti nel tempo e algoritmi basati sulla sparsità per ottenere una qualità d'immagine comparabile con dosi di elettroni significativamente ridotte, migliorando al contempo la sensibilità nella rilevazione dei difetti e consentendo una stima critica della dose.