Flux Trapping Characterization for Superconducting Electronics Using a Cryogenic Widefield NV-Diamond Microscope
Questo articolo presenta un microscopio magnetico a campo largo basato su diamanti NV criogenico che permette l'immagine rapida e ad alta risoluzione del intrappolamento del flusso magnetico nei dispositivi superconduttori, fornendo nuove intuizioni sulle dinamiche di espulsione dei vortici e sulle strategie di mitigazione per l'elettronica superconduttiva scalabile.