Flux Trapping Characterization for Superconducting Electronics Using a Cryogenic Widefield NV-Diamond Microscope
Questo articolo presenta un microscopio magnetico a campo largo basato su diamanti NV criogenico che permette l'immagine rapida e ad alta risoluzione del intrappolamento del flusso magnetico nei dispositivi superconduttori, fornendo nuove intuizioni sulle dinamiche di espulsione dei vortici e sulle strategie di mitigazione per l'elettronica superconduttiva scalabile.
Rohan T. Kapur, Pauli Kehayias, Sergey K. Tolpygo, Adam A. Libson, George Haldeman, Collin N. Muniz, Alex Wynn, Nathaniel J. O'Connor, Neel A. Parmar, Ryan Johnson, Andrew C. Maccabe, John Cummings, Justin L. Mallek, Danielle A. Braje, Jennifer M. SchlossTue, 10 Ma⚛️ quant-ph