Fast and Robust Speckle Pattern Authentication by Scale Invariant Feature Transform algorithm in Physical Unclonable Functions
本論文は、回転や拡大縮小、切り取りなどの画像変形に強く、高速な認証を可能にするスケール不変特徴変換(SIFT)アルゴリズムを光学的物理的複製不可能関数(PUF)の斑点パターン認証に応用し、偽造防止や高セキュリティ認証の実用化に貢献する手法を提案している。