Boundaries of Acceptable Defectiveness: Redefining Surface Code Robustness under Heterogeneous Noise
本論文は、STIM を用いたシミュレーションにより、表面符号における個々の量子ビットの欠陥やノイズの不均一性が論理誤り率に与える影響を分析し、特定の条件下では欠陥量子ビットを除去せずとも論理計算を維持可能であることを示し、許容可能な欠陥の限界(BADs)を定義することで、均一なノイズモデルに依存しない現実的なハードウェア設計指針の確立に貢献しています。