Robust Excitonic Coherence Driven by In-Plane Anisotropy in a van der Waals Semiconductor
연구진은 과도적 마이크로 4파 혼합 분광법을 사용하여, 순수 층상 이황화 레늄(ReS2)의 면내 이방성이 밀도 및 온도 변화에 대한 탄력성을 갖는 강력한 엑시톤 결맞음을 유도하며, 이는 균일한 전이와 낮은 무질서도로 인해 상온에서도 측정 가능한 양자 특성을 가능하게 한다는 것을 입증하였다.