Origin of mixed anisotropy in crystalline Permalloy and amorphous Cobalt thin films individually deposited on Si substrate
본 연구는 Si 기판 상의 rf-스퍼터링된 결정질 Permalloy 및 비정질 Cobalt 박막에서 혼합 자기 이방성의 진화를 조사하여, 성장 조건과 박막 두께가 어떻게 자화 기울기(magnetization tilt)를 유도하는지 밝히고 스핀트로닉스 소자 성능을 향상시키기 위한 뚜렷한 이방성 영역을 정의한다.