Experimentally-validated multi-slice simulation of electron diffraction patterns
이 논문은 고분해능 전자 후방 산란 회절 (HR-EBSD) 분석의 정확도를 높이기 위해 결함 구조를 더 정밀하게 시뮬레이션할 수 있는 다중 슬라이스 (MS) 방법을 실험 데이터와 최초로 비교 검증하고, 5 차 테일러 전개 기반의 MS5 모델이 계산 비용과 패턴 정밀도 사이에서 최적의 균형을 제공함을 입증했습니다.