Flux Trapping Characterization for Superconducting Electronics Using a Cryogenic Widefield NV-Diamond Microscope
이 논문은 초전도 전자소자의 신뢰성과 확장성을 제한하는 자기 플럭스 트래핑 문제를 해결하기 위해, 초전도 소자 내 플럭스 소용돌이를 마이크로미터 규모로 빠르게 이미징할 수 있는 극저온 광시야 NV-다이아몬드 현미경을 개발하고 이를 통해 Nb 박막 및 패턴 스트립의 소용돌이 배출 거동을 규명했다고 요약할 수 있습니다.