Variability of MHD Instabilities in Benign Termination of High-Current Runaway Electron Beams in the JET and DIII-D Tokamaks
JET 와 DIII-D 토카막에서 고전류 runaway 전자 빔의 '부드러운 종결' 여부는 RE 전류 프로파일의 피크화 정도와 이에 따른 MHD 불안정성 경계 (안전 계수 ) 를 결정하며, 특히 낮은 MCD 섭동 진폭이 부드러운 종결 실패의 주요 원인으로 작용한다는 것을 분석을 통해 규명했습니다.