Radial transport of electric current by electromagnetic microturbulence in tokamaks
GENE와 CGYRO에 새롭게 구현된 전자기 진단 기능을 활용한 비선형 자이로키네틱 시뮬레이션을 통해, 본 연구는 특히 마이크로티어링 모드에서의 전자 유도 맥스웰 응력(Maxwell stress)을 통한 전자기 미세 난류가 고베타 토카막 플라즈마에서 안전 계수(safety-factor) 프로파일을 수정할 수 있을 만큼 충분한 난류 전류 플럭스를 생성할 수 있음을 입증한다.