Physics-aware global Rietveld refinement for high-energy X-ray diffraction microscopy with application to reconstructing intragranular orientation and strain fields
تقدم هذه الورقة طريقة جديدة لتنقية "ريتفيلد" العالمية المدركة للفيزياء لمجهر حيود الأشعة السينية عالية الطاقة، والتي تدمج فيزياء التشوه في المحاكاة الأمامية وتوظف النقل الأمثل القابل للتفاضل لإعادة بناء حقول التوجه والإجهاد داخل الحبيبات بدقة عالية واتساق فيزيائي، كما تم إثبات ذلك على أكسيد النيترتريك للألومنيوم باستخدام تنفيذ PARA-X مفتوح المصدر.