Probing the Dynamics of Two-Level System Defect Ensembles via Broadband Cryogenic Transient Dielectric Spectroscopy
Dieses Paper führt die Breitbandige Kryogene Transiente Dielektrische Spektroskopie (BCTDS) ein, eine neuartige Technik auf Wafer-Ebene, welche transiente Phasendynamiken unter starker Mikrowellenanregung nutzt, um das frequenzabhängige Verhalten und die durch Thermozyklierung induzierten Verschiebungen von Zwei-Niveau-System (TLS)-Defekten in Dielektrika zu charakterisieren, wodurch sie ein leistungsfähiges Werkzeug zum Verständnis von Dekohärenzquellen in supraleitenden Quantenschaltkreisen darstellt.