High-temperature operation of III-nitride high-electron-mobility transistors
Diese Arbeit analysiert den Hochtemperaturbetrieb von III-Nitrid-HEMTs, indem sie die Auswirkungen auf Material- und Baue właściwości untersucht, Strategien zur Milderung thermischer Effekte bewertet, deren Stabilität in verschiedenen Anwendungen beurteilt und verbleibende Designherausforderungen hervorhebt.