Re-evaluating photoluminescent defects in CuO
Diese Studie widerlegt die gängige Zuordnung der sub-Bandlücken-Photolumineszenzlinien in CuO zu Kupfer- und Sauerstoff-Leerstellen und identifiziert stattdessen Sauerstoff- und Kupfer-Interstitiale sowie eine spezifische Spalt-Leerstelle als die einzigen native Defekte, die zuverlässige Zustände innerhalb der Bandlücke erzeugen.