SemiConLens: Visual Analytics for 2D Semiconductor Discovery
SemiConLens ist ein System zur visuellen Analyse, das eine neuartige korrelationsbewusste multivariate Imputationsmethode (CAMI) mit interaktiven Visualisierungen integriert, um Herausforderungen hinsichtlich Datenknappheit und Zuverlässigkeit zu überwinden und somit Materialforschern zu ermöglichen, vielversprechende Kandidaten für 2D-Halbleiter effektiv zu entdecken und zu bewerten.