Simultaneous SI-traceable measurement of the amplitude and the ellipticity of microwave fields with cold Rydberg atoms
Diese Arbeit präsentiert eine SI-rückführbare Methode mittels Fallenverlustspektroskopie kalter Rydberg-Atome zur gleichzeitigen Messung der Mikrowellenfeldamplitude und der Elliptizität mit einer Genauigkeit von etwa 1 %, während gleichzeitig der Einfallswinkel des Feldes extrahiert wird.