Dynamic thermal sensitivity of microwave cryogenic sapphire resonator
Dieser Artikel zeigt, dass ein durch die Relaxationszeit von Cr3+-Verunreinigungen in kryogenen Saphirresonatoren verursachter Gedächtniseffekt Hysterese und eine dynamische thermische Empfindlichkeit induziert, was die Frequenzstabilität ultra-stabiler Oszillatoren verschlechtert, indem es bei 10-Sekunden-Integrationszeiten eine deutliche Erhöhung in der Allan-Abweichung erzeugt.