Flux Trapping Characterization for Superconducting Electronics Using a Cryogenic Widefield NV-Diamond Microscope
Die Autoren stellen ein kryogenes Weitfeld-Mikroskop auf Basis von NV-Diamanten vor, das eine schnelle, mikrometergenaue Abbildung von magnetischen Flussfängen in supraleitenden Bauelementen ermöglicht und durch die Analyse von Wirbel-Ausstoßfeldern neue Erkenntnisse für die Skalierbarkeit supraleitender Elektronik liefert.