Towards Trapped-Ion Thermometry Using Cavity-Based EIT
Dieses Papier stellt eine theoretisch modellierte und numerisch simulierte Methode vor, die mithilfe von hohlrauminduzierter elektromagnetischer Transparenz (EIT) in der starken Kopplungsregime die Temperatur und den phononischen Besetzungszustand gefangener Ionen effizient bestimmt, wobei die Technik zwar das aufgelöste Seitenbandregime voraussetzt, aber auch für Systeme im schwachen Kopplungsregime zur Thermometrie im sub-Doppler-Bereich nutzbar ist.