Fabrication-free assessment of microwave losses in germanium-based dielectrics and superconductors
Diese Arbeit stellt eine fertigungsfreie Flip-Chip-Sensortechnik vor, um Mikrowellenverluste in Germanium-basierten Dielektrika und Supraleitern schnell zu bewerten, wobei aufgezeigt wird, dass dehnungsmanipulierte Ge/SiGe-Heterostrukturen vielversprechend für Quantenschaltkreise sind, während unveränderte PtSiGe-Filme hohe Verluste aufweisen, die durch eine Beschichtung mit Niob signifikant gemindert werden können.